ECM-100離子遷移測(cè)試裝置（CAF）是一種信賴(lài)性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1 ～1000 小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ ION MIGRATION ）。

離子遷移實(shí)驗(yàn)裝置（CAF） 原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1 ～1000 小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱(chēng)為絕緣劣化試驗(yàn)。

J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）絕緣電阻值測(cè)試，在高溫高濕條件下，對(duì)電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測(cè)試電阻值，也能夠進(jìn)行高效率的絕緣可靠性評(píng)估。

J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置 絕緣可靠性評(píng)估，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓 , 經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1 ～1000 小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生 , 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF 試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱(chēng)為絕緣劣化試驗(yàn)。

日本J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置CAF測(cè)試是一種信賴(lài)性試驗(yàn)設(shè)備，原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓（ BIAS VOLTAGE ）, 經(jīng)過(guò)長(zhǎng)時(shí)間的測(cè)試（1 ～1000 小時(shí)）并觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生（ ION MIGRATION ）, 并記錄電阻值變化狀況，故又叫做 CAF試驗(yàn)，絕緣阻力電阻試驗(yàn)，或者是 OPEN/SHORT 試驗(yàn)，我們將其統(tǒng)稱(chēng)為絕緣劣化試驗(yàn)。

J-RAS代理離子遷移試驗(yàn)裝置 CAF測(cè)試，J-RAS離子遷移試驗(yàn)裝置（CAF）ECM-100是可以單獨(dú)試驗(yàn)的ALL-IN-ONE檢測(cè)系統(tǒng)，并且重要的試驗(yàn)數(shù)據(jù)被保存到CF存儲(chǔ)卡。作為系統(tǒng)構(gòu)成我們準(zhǔn)備了40CH/100CH型，可以根據(jù)您的預(yù)算、設(shè)置空間來(lái)進(jìn)行選擇。